黄仕华
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第一作者 : 程佩红
发表时间 : 2014-01-01
发表刊物 : 半导体学报(英文版)
所属单位 : 数理与信息工程学院
文献类型 : 期刊
卷号 : 第35卷
期号 : 第10期
页面范围 : 21-26
关键字 : annealing;fabrication;sputtering;trapping;characterize;subsequent;saturation;magnetron;resolve;crystallize
摘要 : The rapid thermal annealing(RTA) nano-crystallization method is widely used in the metal nanocrystal fabrication process. However, the high temperature(usually 600–900 ?C) in the RTA process will worsen the performance and reliability of devices. A novel
是否译文 : 否