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第一作者 ： 马利红

发表时间 ： 2011-01-01

发表刊物 ： 光子学报

所属单位 ： 数理与信息工程学院

文献类型 ： 期刊

期号 ： 第2期

页面范围 ： 300-306

ISSN ： 1004-4213

关键字 ： 数字全息显微；再现像质；放大倍率；记录距离

摘要 ： 为了获取高质量的数字全息显微再现像,分析了同轴相移数字全息显微系统结构参量对再现像质的影响.首先经过计算得出理想成像时,像空间物光波频率完全由物体面形结构频率和系统放大倍率决定.然后基于显微成像时物光波的所有频率分量都应该被有效记录的分析,得出在同轴相移系统中放大倍率必须使物光波的空间频率缩小到满足采样要求;并得出在相同的放大倍率下记录距离会影响有效记录的物体尺寸,记录器件离开像平面的距离越小,有效记录的物体尺寸越大,在像平面上时有效记录的物体尺寸最大.计算机仿真和光学实验都证明了上述结论的正确性.

是否译文 ： 否