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第一作者 ： 徐建程

发表时间 ： 2010-01-01

发表刊物 ： 强激光与粒子束

所属单位 ： 数理与信息工程学院

文献类型 ： 期刊

期号 ： 第8期

页面范围 ： 1905-1908

ISSN ： 1001-4322

关键字 ： 功率谱密度；统计理论；大口径光学元件；子孔径拼接

摘要 ： 针对ICF系统要求,提出了一种基于统计理论的大口径光学元件功率谱密度测量方法。该方法将大口径波前划分成足够多个子区域,分别求得每个子区域波前的功率谱密度,根据统计理论可将大口径波前功率谱密度表示为各个子区域波前功率谱密度的加权平均,其权重因子是各子区域对应的面积。模拟计算和实验结果验证了统计法测量的有效性,并表明当子区域个数大于等于8×8时,统计法测量和子孔径拼接测量得到的功率谱密度吻合较好。统计法测量对平台移动精度和环境稳定性要求不高,可应用于大口径光学元件功率谱密度的过程检测。

是否译文 ： 否