CuO/CeO2-Al2O3催化剂中CuO物种的原位XRD、Raman和TPR表征
点击次数：
第一作者：何迈
发表时间：2005-01-01
发表刊物：物理化学学报
所属单位：物理化学研究所
文献类型：期刊
期号：第9期
页面范围：997-1000
ISSN号：1000-6818
关键字：CuO/CeO2-Al2O3；XRD；Raman；TPR；CuO迁移；固相反应
摘要：采用原位XRD、激光Raman光谱和TPR(程序升温还原)技术研究了CuO(w,%)/CeO2-Al2O3催化剂中CuO物种的存在形式及其CuO物种的迁移.低温焙烧(300℃)催化剂,CuO以高分散和晶相两种形式存在于CeO2-Al2O3载体表层.随着焙烧温度的升高,CuO开始从表层向CeO2内层迁移.处于内层的CuO部分以晶相形式存在,部分与Al2O3载体反应生成CuAl2O4.高温有利于表层CuO向CeO2内层迁移,同时促进CuAl2O4生成.结果表明结合原位XRD、激光Raman光谱和TPR技术可以
是否译文：否