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第一作者 ： 方允樟

发表时间 ： 2005-01-01

发表刊物 ： 浙江大学学报（工学版）

所属单位 ： 数理与信息工程学院

文献类型 ： 期刊

卷号 ： 第39卷

期号 ： 第4期

页面范围 ： 511-515，521

ISSN ： 1008-973X

关键字 ： Fe基纳米晶；频移；磁阻抗；介观结构

摘要 ： 用4294A型阻抗分析仪研究Fe基纳米晶薄带(FNR)两种驱动模式(LC模式和L模式)的磁阻抗,发现LC模式阻抗频谱在外磁场作用下有显著的频移现象.利用这种频移现象,在选择LC模式的情况下,当驱动电流频率接近0 磁场阻抗频谱峰频率时,磁阻抗比值达到24 28,比L模式的0 28 大得多;磁敏线性区间为0~1 669.5 A/m,比L模式的0~70 A/m扩大20 多倍.该结果在实际应用中有利于提高FNR磁敏传感器的灵敏度和扩大磁敏线性区间;用原子力显微镜( AFM)观察FNR表面和经氢氟酸溶液腐蚀的FNR

是否译文 ： 否