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基本信息Personal Information
正高级工程师
性别 : 男
毕业院校 : 西安建筑科技大学
学历 : 博士研究生毕业
学位 : 博士学位
在职信息 : 退休
所在单位 : 物理与电子信息工程学院
入职时间 : 1986年07月01日
学科 : 物理学
联系方式 : 13566771116
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用原子力显微镜观察薄带断面的实验方法
点击量 ：
第一作者 ： 吴文慧
发表时间 ： 2006-01-01
发表刊物 ： 浙江师范大学学报（自然科学版）
所属单位 ： 数理与信息工程学院
文献类型 ： 期刊
卷号 ： 第29卷
期号 ： 第1期
页面范围 ： 42-46
ISSN ： 1001-5051
关键字 ： AFM；薄带；断面；介观结构
摘要 ： 介绍了用原子力显微镜(AFM)观察厚度为几十μm的薄带断口形貌的实验方法.其主要技术是利用AFM的反馈系统来寻找μm量级的断面,从而实现薄带断口形貌的分析.将利用该方法得到的Fe73.5Cu1Nb3Si13.5B9薄带断口的AFM图像与其通常的薄带表面的AFM图像进行比较,发现通过断口的AFM形貌观测可获得不同于表面观测的薄带内部结构的信息,是研究薄带介观结构的一种有效方法.
是否译文 ： 否