方允樟

基本信息Personal Information

正高级工程师

性别 : 男

毕业院校 : 西安建筑科技大学

学历 : 博士研究生毕业

学位 : 博士学位

在职信息 : 退休

所在单位 : 物理与电子信息工程学院

入职时间 : 1986年07月01日

学科 : 物理学

联系方式 : 13566771116

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论文成果

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ZnO/CuO核壳结构纳米线光致发光性能与CuO壳层厚度的关系

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第一作者 : 孟秀清

发表时间 : 2012-01-01

发表刊物 : 发光学报

所属单位 : 数理与信息工程学院

文献类型 : 期刊

期号 : 第3期

页面范围 : 280-285

ISSN : 1000-7032

关键字 : ZnO/CuO;核壳结构纳米线;光致发光性质;type-I;型结构

摘要 : 通过分别生长核层与壳层制备出了ZnO/CuO核壳结构的纳米线。形貌和结构分析表明,ZnO核为单晶纳米线而CuO则以多晶形式覆盖在核层表面上。光致发光(PL)研究表明,ZnO纳米线PL强度随CuO壳层厚度的变化而变化。当壳层比较薄时ZnO的PL强度增大,这主要是由于CuO壳层对ZnO核层的修饰减少了表面态,而当壳层厚度增加到一定程度时,ZnO的PL强度不再变化,这主要是由于在核壳结构中形成了type-I型结构的原因。我们对这一现象做了详细的讨论。

是否译文 :

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