黄仕华
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第一作者 : Huang Shi-Hua
发表时间 : 2013-01-01
发表刊物 : Chinese Physics B
所属单位 : 数理与信息工程学院
文献类型 : 期刊
卷号 : Vol.22
期号 : No.2
页面范围 : 027701
ISSN : 1674-1056
关键字 : Ta<sub>2</sub>O<sub>5</sub>;film;magnetron;sputtering;C-V;oxide;charge
摘要 : The effects of the oxygen-argon ratio on electric properties of Ta 2 O 5 film prepared by radio-frequency magnetron sputtering were investigated. The Ta 2 O 5 partially transforms from amorphous phase into crystal phase when annealing temperatures are 8
是否译文 : 否